Sistema di controllo compatto per difetti di superficie longitudinali
Il CIRCOGRAPH CI riunisce una struttura compatta ad un comando intuitivo in un sistema di controllo rotante ad alta precisione. Il CIRCOGRAPH CI non è soltanto dotato di un computer facile da usare, ma anche di un semplice comando Turn-and-Push. Il sistema a due canali è adattabile a qualsiasi incarico di controllo grazie ad un'ampia scelta di testine rotanti diverse. In questo modo è possibile individuare difetti longitudinali sulla superficie del materiale a partire da una profondità di 30 µm.
I vantaggi in breve:
- Struttura compatta
- Semplice comando tramite computer di comando integrato e comando Turn-and-Push
- Sistema di controllo universale, adattabile ad applicazioni e esigenze individuali
- Sistema di controllo a due canali
- Controllo completo a ciclo continuo
- Risoluzione profondità del difetto a partire da 30 µm
Dati tecnici
| Materiale di controllo: | Materiale ferromagnetico, austenitico e non ferromagnetico |
| Sistema di rilevazione: | Sistema di rilevazione rotante con al massimo due testine di controllo opposte (Ro 20 e Ro 35) |
| Frequenze di controllo: | 30 kHz - 1 MHz |
| Max. velocità di portata: | 3 m/s con controllo completo |
| Rilevamento difetto: | da 30 µm con Ro 20 / Ro 35 |
